Исследование электрических свойств танталовый конденсаторов циклическими поляризационными и импедансными измерениями
DOI:
https://doi.org/10.17072/2223-1838-2020-3-318-327Ключевые слова:
танталовый конденсатор, электрохимические измерения, электрические параметры электролити-ческих конденсаторовАннотация
При использовании автоматизированного комплекса SOLARTRON-1280C, применяемого для электрохимических исследований, измерены электрические параметры промышленных танталовых конденсаторов и предложены методы оценки погрешности заявленных величин. Показано, что эти методики надежно выявляют бракованную продукцию и указывают на дефектный параметр конденсатора. С помощью метода импедансной спектроскопии определяется дисперсия электрической емкости конденсатора от частоты переменного сигнала и оценивается возможность протекания побочных процессов, влияющих на величину тока утечки. Применение потенциодинамических (потенциостатических) методов измерений позволяет точно рассчитать основные параметры конденсаторов при постояннотоковых условиях эксплуатации готового изделия.Библиографические ссылки
Одынец Л.Л., Орлов В.М. Анодные оксидные пленки. // Наука. 1990. c. 200.
Cavigliasso G.E., Esplandiu M.J., Macagno V.A. Influence of the forming electrolyte on the electrical properties of tantalum and niobium oxide films: an EIS comparative study // Jour-nal of Applied Electrochemistry. – 1998. – vol.28. – issue.11. – P.1213-1219.
Lu Q., Mato S., Skeldon P., Thompson G.E., Masheder D., Habazaki H., Shimizu K. Anod-ic film growth on tantalum in dilute phosphoric acid solution at 20 and 85 °C // Electro-chemica Acta. – 2002. – vol.47. – issue.17. – P.2761-2767.
Freeman Y., Alapatt G.F., Harrell W.R., Lessner P. Electrical Characterization of High Volt-age Polymer Tantalum Capacitors // Journal of the Electrochemical Society. – 2012. – vol.159. – issue.10. – P.A1646-A1651.
Freeman Y., Alapatt G.F., Harrell W.R., Luzinov I., Lessner P. Qazi J. Anomalous Currents in Low Voltage Polymer Tantalum Capacitors // Journal of Solid State Science and Technol-ogy. – 2013. – vol.2. – issue.11. – P.N197-N204.
Freeman Y., Alapatt G.F., Harrell W.R., Luzinov I., Lessner P. Asymmetric Conduction and Stability of Polymer Tantalum Capacitors // Journal of Solid State Science and Technology. – 2015. – vol.4. – issue.7. – P.N70-N75.
J.D. Sloppy, Z. Lu, E.C. Dickey, D.D. Macdonald. Growth mechanism of anodic tantalum pentoxide formed in phosphoric acid. // Electrochimica Acta. 2013. V 87. P. 82-91.
J.D. Sloppy, D.D. Macdonald, and E.C. Dickey Growth laws of bilayer anodized tantalum oxide films formed in Phosphoric acid // J. Electochem. Soc. 2010. V 157. №5. P. 157-165
I. Montero, B. Pelloi, J. Perriere, J.C. Pivin, J.M. Albella. Study of ionic transport during an-odization by nuclear microanalysis and secondary ion mass spectroscopy. // J. Electro-chem. Soc. 1989. V. 136. № 7. P. 1869-1874.
References
Odynets, L.L. and Orlov V.M. (1990) “Anodic oxide films” Nauka, Leningrad, Russia. (In Russ.).
Cavigliasso, G.E., Esplandiu, M.J., and Macagno, V.A. (1998), “Influence of the forming electrolyte on the electrical properties of tantalum and niobium oxide films: an EIS compar-ative study”, Journal of Applied Electrochemistry, vol.28, issue.11, pp. 1213-1219.
Lu, Q., Mato, S., and Skeldon, P., Thompson, G.E., Masheder, D., Habazak,i H., and Shimizu K. (2002) “Anodic film growth on tantalum in dilute phosphoric acid solution at 20 and 85 °C”, Electrochemica Act, vol.47, issue.17, pp.2761-2767.
Freeman, Y., Alapatt, G.F., Harrell, W.R., Lessner, P. (2012), “Electrical Characterization of High Voltage Polymer Tantalum Capacitors”, Journal of the Electrochemical Society, vol.159, issue.10, pp.A1646-A1651.
Freeman, Y., Alapatt, G.F., Harrell, W.R., Luzinov, I., Lessner, P. and Qazi, J. (2013), “Anomalous Currents in Low Voltage Polymer Tantalum Capacitors”, Journal of Solid State Science and Technology, vol.2, issue.11, pp.N197-N204.
Freeman, Y., Alapatt, G.F., Harrell, W.R., Luzinov, I., and Lessner, P. (2015), “Asymmetric Conduction and Stability of Polymer Tantalum Capacitors”, Journal of Solid State Science and Technology, vol.4, issue.7, pp.N70-N75.
Sloppy, J.D., Lu, Z., Dickey, E.C. and Macdonald, D.D., (2013), “Growth mechanism of anodic tantalum pentoxide formed in phosphoric acid”, Electrochimica Acta., V 87, pp. 82-91.
Sloppy, J.D., Macdonald, D.D. and Dickey, E.C., (2010), “Growth laws of bilayer anodized tantalum oxide films formed in Phosphoric acid”, J. Electochem. Soc., V. 157, №5, pp. 157-165
Montero, I., Pelloi, B., Perriere, J., Pivin, J.C. and Albella, J.M., (1989), “Study of ionic transport during anodization by nuclear microanalysis and secondary ion mass spectrosco-py”, J. Electrochem. Soc., V. 136, № 7, pp. 1869-1874.
