Анализ дифракции белого рентгеновского излучения на кристаллах методом Эвальда при определении линейных параметров кристаллической решётки. Вест. ПГУ Физика 2020, No. 1. https://doi.org/10.17072/10.17072/1994-3598-2020-1-43-51.