Анализ дифракции белого рентгеновского излучения на кристаллах методом Эвальда при определении угловых параметров кристаллической решётки (Вестник Пермского университета. Физика, 2021)
С применением метода Эвальда проведен анализ формирования дифракционной картины при взаимодействии белого рентгеновского излучения с кристаллами в процессе дифрактометрической съёмки методом ω-сканирования с применением точечного счётчика. Рассмотрено влияние таких параметров рентгеновской съёмки, как напряжение на рентгеновской трубке и угловое положение счётчика, на количество и интенсивность рефлексов на рентгенограммах. Показано, что углы между дифракционными максимумами на дифрактограммах, полученных ω-сканированием с применением белого рентгеновского излучения, равны углам между соответствующими кристаллографическими плоскостями. С применением рассмотренной рентгеновской съёмки измерены углы и определены кристаллографические индексы отражающих плоскостей кристаллов некоторых простых веществ.