Анализ дифракции белого рентгеновского излучения на кристаллах методом Эвальда при определении линейных параметров кристаллической решётки (Вестник Пермского университета. Физика, 2020)
Показана возможность применения коротковолновой границы белого рентгеновского излучения для экспериментального определения линейных параметров кристаллической решётки. Рассмотрены два варианта рентгеновской съёмки, позволяющей зафиксировать дифракционный эффект, лежащий в основе определения линейных параметров: съёмка при изменении напряжения на рентгеновской трубке и постоянном угле дифракции, а также съёмка при изменении угла дифракции и постоянном напряжении на трубке. Для обоих вариантов съёмки получены расчётные формулы, позволяющие экспериментально определить линейные параметры решётки. С применением рассмотренных типов рентгеновской съёмки и полученных расчётных формул определены межплоскостные расстояния в кристаллах некоторых простых веществ.