Анализ дифракции белого рентгеновского излучения на кристаллах методом Эвальда при определении угловых параметров кристаллической решётки

Авторы

  • Игорь Александрович Тренинков (Igor A. Treninkov) ФГУП «Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов»
  • Александр Яковлевич Кочубей (Alexandr Ya. Kochubey) ФГУП «Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов» (ВИАМ)

DOI:

https://doi.org/10.17072/1994-3598-2021-1-40-48

Ключевые слова:

кристаллическая решётка, обратная решётка, белое рентгеновское излучение, ω-сканирование, рентгеновская гониометрия

Аннотация

С применением метода Эвальда проведен анализ формирования дифракционной картины при взаимодействии белого рентгеновского излучения с кристаллами в процессе дифрактометрической съёмки методом ω-сканирования с применением точечного счётчика. Рассмотрено влияние таких параметров рентгеновской съёмки, как напряжение на рентгеновской трубке и угловое положение счётчика, на количество и интенсивность рефлексов на рентгенограммах. Показано, что углы между дифракционными максимумами на дифрактограммах, полученных ω-сканированием с применением белого рентгеновского излучения, равны углам между соответствующими кристаллографическими плоскостями. С применением рассмотренной рентгеновской съёмки измерены углы и определены кристаллографические индексы отражающих плоскостей кристаллов некоторых простых веществ.

Библиографические ссылки

Umansky Ya. S., Skakov Yu. A., Novikov A. N., Rastorguev L. N. Crystallography, roentgenography and electron microscopy. Moscow: Metallurgy, 1982. 632 p. (In Russian)

Blokhin M. A. Physics of X-rays. Oak-Ridge, USA: U.S. Atomic Energy Commission, 1957. 429 p.

Novikov I. I., Rozin K. M. Crystallography and crystal lattice defects. Moscow: Metallurgy, 1990. 336 p. (In Russian).

Vasiliev D. M. Diffraction methods for studying structures. Moscow: Metallurgy, 1977. 247 p.

Gorelik S. S., Skakov Yu. A., Rastorguev L. N. Radiographic and electronoptical analysis. Moscow: Metallurgy, 1970, 366 p. (In Russian).

Kochubey A. Ya., Treninkov I. A. Analysis of white X-ray diffraction on crystals by Ewald method in the construction of straight pole figures. News of materials science. Science and technology: electronic journal, 2018, no. 5–6. pp. 71–77. URL: http://www.materialsnews.ru (date accessed: 05.04.2019).

Загрузки

Дополнительные файлы

Опубликован

2021-04-05

Как цитировать

Тренинков (Igor A. Treninkov) И. А., & Кочубей (Alexandr Ya. Kochubey) А. Я. (2021). Анализ дифракции белого рентгеновского излучения на кристаллах методом Эвальда при определении угловых параметров кристаллической решётки. Вестник Пермского университета. Физика, (1). https://doi.org/10.17072/1994-3598-2021-1-40-48

Выпуск

Раздел

Статьи